تحليل طيفي
من ويكيبيديا، الموسوعة الحرة
التحليل الطيفي أو تحليل الطيف (بالإنجليزية: Spectrum Analysis) هو تحليل للضوء المنبعث أو المنعكس عن أية مادة بواسطة جهاز خاص يطلق عليه اسم مقياس الطيف (الاسبكتروسكوب). ولكل مادة طيفها المميز الذي لايطابق أية مادة أخرى[1]. ويمكن تعرّفها عن طريق خطوط سوداء تظهر في أماكن محدودة من مقياس الطيف، والطيف نفسه ينشأ أساسًا من مرور الضوء في منشور زجاجي. القوانين الأوليّة لتحليل الطيف، والمعروفة عمومًا باسم قوانين كيرشوف، تقسّم الطيف المنبعث على النحو التالي[2]:
- المواد الصلبة، أو الغازات الكثيفة: تنتج عند تسخينها طيفًا مستمرًا.
- الغازات منخفضة الكثافة: تنتج عند تسخينها طيفًا منبعثًا.
- مصدر للطيف المستمر يظهر من خلال غاز بارد منخفض الكثافة ينتج خط من الطيف الممتص.
[عدل] مراجع
- ^ George Gore (1878). The Art of Scientific Discovery: Or, The General Conditions and Methods of Research in Physics and Chemistry. Longmans, Green, and Co. ص. 179. http://books.google.com/books?id=We0EAAAAYAAJ&pg=PA179&dq=Wheatstone+Angstrom+spectrum++bunsen+kirchoff+crookes+rubidium+thallium&lr=&as_brr=3&ei=dqV3SoHpBZXkkQTo7dStAQ#v=onepage&q=Wheatstone%20Angstrom%20spectrum%20%20bunsen%20kirchoff%20crookes%20rubidium%20thallium&f=false.
- ^ Brian Bowers (2001). Sir Charles Wheatstone FRS: 1802-1875 (2nd ed.). IET. ص. 207–208. ISBN 9780852961032. http://books.google.com/books?id=m65tKWiI-MkC&pg=PA208&dq=Wheatstone+spectrum+analysis+metals&lr=&as_brr=3&ei=yqN3StmSN5qGkgTRrpScAQ#v=onepage&q=Wheatstone%20spectrum%20analysis%20metals&f=false.
