ظاهرة الانبعاث الثانوي

من ويكيبيديا، الموسوعة الحرة
اذهب إلى: تصفح، ‏ ابحث

ظاهرة الانبعاث الثانوي ظاهرة فيزيائية في الصمامات المفرغة خصوصا. فعند سقوط جسيم ما على مادة محكومة بهذه الظاهرة, فإنه يحض جسيمات أخرى على الانبعاث, يسمى الجسيم الساقط بالجسيم الابتدائي, و يسمى الجسيم المنبعث بالجسيم الثانوي. قد يكون الجسيم الابتدائي إما إلكترونا أو أيونا أو أشعة سين أو أشعة غاما. أما الجسيم الثانوي فيمكن أن يكون:

المبدأ[عدل]

لو أخذنا الإلكترون كمثال, فحين يسقط على المادة بسرعة كبيرة فإنه سيخترق الذرة و يدخل المدار الإلكتروني الخاص بالذرة, و بما أن سرعته كبيرة فلن تتمكن النواة الموجبة من جذبه رغم أن شحنته سالبة, لكن و أثناء عبوره المدار ذا الإلكترونات السالبة فإنه سيتنافر معها بسبب تشابه الشحنات. قد تنجم تلك المنافرة عن تحرير عدد من إلكترونات المدار و جعلها تسبح (تبنعث) لكن ببطء. لحصول ذلك ينبغي أن تكون طاقة الإلكترون الساقط كافية لتحرير الإلكترونات. تدعى تلك الإلكترونات البطيئة إلكترونات ثانوية.

و و قد يسقط الإلكترون على المادة بطاقة كافية, و لكن لا يصادف إلكترونات أثناء اجتيازه المدار الإلكتروني, بل قد توثر قوة جذب النواة على اتجاه الالكترون, جاعلة يدور حولها و يرتد على منبعه دون أن يحرر أي يحرر أي الكترون. يدعى هذا الإلكترون بـ الكترون مرتد أو الكترون ناكص (بالإنجليزية: back-scattered electron). كلما ازداد حجم النواة, ازداد رجيع الإلكترونات.

التطبيقات[عدل]

تم توظيف هذه الظاهرة في تضخيم الضوء في جهاز صمام التضخيم الضوئي, حيث يكون الجسيم الابتدائي هو الألكترون و الجسيم الثانوي هو الإلكترون كذلك و الوسط بينهما قطب كهربائي معدني (داينود).

و وظفت كذلك في التصوير في المجاهر الإلكترونية المسحية, حيث يتم رش عينة الفحص بمادة تمتلك خاصية الانبعاث الثانوي قبل فحصها, و من ثم تسليط إلكترونات عليها و اصطياد الإلكترونات المنبعثة منها بواسطة شاشة فلورية.

و وظفت أيضا في مطيافية الكتلة بما يعرف بـ مطيافية الأيون الثانوي للكتلة.