تبعثر الأشعة السينية بزاوية كبيرة: الفرق بين النسختين

اذهب إلى التنقل اذهب إلى البحث
ط
بوت:إضافة مصدر (1.2)، إزالة وسم مصدر
(بوت: إضافة بوابة:الفيزياء)
ط (بوت:إضافة مصدر (1.2)، إزالة وسم مصدر)
'''تبعثر الأشعة السينية بزاوية كبيرة''' {{إنج|Wide angle X-ray scattering WAXS}} هو تقنية من تقنيات [[حيود الأشعة السينية]] التي تستخدم غالبا لدراسة التركيب البلوري [[مبلمر|للمكثورات]].<ref>{{استشهاد ويب| مسار = https://academic.microsoft.com/v2/detail/156866015 | عنوان = معلومات عن تبعثر الأشعة السينية بزاوية كبيرة على موقع academic.microsoft.com | ناشر = academic.microsoft.com}}</ref> وتقوم هذه التقنية على تحليل [[ذرى براغ]] المبعثرة بزوايا كبيرة، والتي تنتج (وفقا ل[[قانون براغ]]) عن البنى الدقيقة ذات مقياس تحت النانومتر.
{{مصدر|تاريخ=فبراير 2016}}
'''تبعثر الأشعة السينية بزاوية كبيرة''' {{إنج|Wide angle X-ray scattering WAXS}} هو تقنية من تقنيات [[حيود الأشعة السينية]] التي تستخدم غالبا لدراسة التركيب البلوري [[مبلمر|للمكثورات]]. وتقوم هذه التقنية على تحليل [[ذرى براغ]] المبعثرة بزوايا كبيرة، والتي تنتج (وفقا ل[[قانون براغ]]) عن البنى الدقيقة ذات مقياس تحت النانومتر.
 
وتبعثر الأشعة السينية بزاوية كبيرة هي نفس تقنية [[تبعثر الأشعة السينية بزاوية صغيرة]] وتختلف فقط بأن المسافة بين العينة واللاقط أقصر ويمكن بذلك ملاحظة الحيود عند زوايا أكبر.
* [[دراسة البلورات بالأشعة السينية]]
* [[حيود الأشعة السينية]]
 
== مراجع ==
{{مراجع}}
 
{{شريط بوابات|الفيزياء|الكيمياء|كيمياء فيزيائية|أعلام}}
 

قائمة التصفح