تبعثر الأشعة السينية بزاوية كبيرة: الفرق بين النسختين

من ويكيبيديا، الموسوعة الحرة
[نسخة منشورة][نسخة منشورة]
تم حذف المحتوى تمت إضافة المحتوى
JarBot (نقاش | مساهمات)
ط بوت:صيانة V3.1، أضاف بذرة
ZkBot (نقاش | مساهمات)
سطر 14: سطر 14:


[[تصنيف:تبعثر]]
[[تصنيف:تبعثر]]
[[تصنيف:تقنيات علمية]]
[[تصنيف:تقانة علمية]]
[[تصنيف:حيود]]
[[تصنيف:حيود]]

نسخة 09:15، 13 فبراير 2019

تبعثر الأشعة السينية بزاوية كبيرة (بالإنجليزية: Wide angle X-ray scattering WAXS)‏ هو تقنية من تقنيات حيود الأشعة السينية التي تستخدم غالبا لدراسة التركيب البلوري للمكثورات. وتقوم هذه التقنية على تحليل ذرى براغ المبعثرة بزوايا كبيرة، والتي تنتج (وفقا لقانون براغ) عن البنى الدقيقة ذات مقياس تحت النانومتر.

وتبعثر الأشعة السينية بزاوية كبيرة هي نفس تقنية تبعثر الأشعة السينية بزاوية صغيرة وتختلف فقط بأن المسافة بين العينة واللاقط أقصر ويمكن بذلك ملاحظة الحيود عند زوايا أكبر.

اقرأ أيضا