تبعثر الأشعة السينية بزاوية كبيرة: الفرق بين النسختين
[نسخة منشورة] | [نسخة منشورة] |
تم حذف المحتوى تمت إضافة المحتوى
ط بوت:صيانة V3.1، أضاف بذرة |
ط بوت: نقل التصنيف: تصنيف:تقنيات علمية إلى تصنيف:تقانة علمية |
||
سطر 14: | سطر 14: | ||
[[تصنيف:تبعثر]] |
[[تصنيف:تبعثر]] |
||
[[تصنيف: |
[[تصنيف:تقانة علمية]] |
||
[[تصنيف:حيود]] |
[[تصنيف:حيود]] |
نسخة 09:15، 13 فبراير 2019
يفتقر محتوى هذه المقالة إلى الاستشهاد بمصادر. (فبراير 2016) |
تبعثر الأشعة السينية بزاوية كبيرة (بالإنجليزية: Wide angle X-ray scattering WAXS) هو تقنية من تقنيات حيود الأشعة السينية التي تستخدم غالبا لدراسة التركيب البلوري للمكثورات. وتقوم هذه التقنية على تحليل ذرى براغ المبعثرة بزوايا كبيرة، والتي تنتج (وفقا لقانون براغ) عن البنى الدقيقة ذات مقياس تحت النانومتر.
وتبعثر الأشعة السينية بزاوية كبيرة هي نفس تقنية تبعثر الأشعة السينية بزاوية صغيرة وتختلف فقط بأن المسافة بين العينة واللاقط أقصر ويمكن بذلك ملاحظة الحيود عند زوايا أكبر.