تبعثر الأشعة السينية بزاوية كبيرة: الفرق بين النسختين
[نسخة منشورة] | [نسخة منشورة] |
تم حذف المحتوى تمت إضافة المحتوى
ط r2.6.4) (روبوت تعديل: en:Wide-angle X-ray scattering |
ط روبوت: توحيد قياسي للإنترويكي; تغييرات تجميلية |
||
سطر 7: | سطر 7: | ||
* [[دراسة البلورات بالأشعة السينية]] |
* [[دراسة البلورات بالأشعة السينية]] |
||
* [[حيود الأشعة السينية]] |
* [[حيود الأشعة السينية]] |
||
[[تصنيف:تبعثر]] |
[[تصنيف:تبعثر]] |
نسخة 16:05، 9 يونيو 2012
تبعثر الأشعة السينية بزاوية كبيرة (بالإنجليزية: Wide angle X-ray scattering WAXS) هو تقنية من تقنيات حيود الأشعة السينية التي تستخدم غالبا لدراسة التركيب البلوري للمكوثرات. وتقوم هذه التقنية على تحليل ذرى براغ المبعثرة بزوايا كبيرة، والتي تنتج (وفقا لقانون براغ) عن البنى الدقيقة ذات مقياس تحت النانومتر.
وتبعثر الأشعة السينية بزاوية كبيرة هي نفس تقنية تبعثر الأشعة السينية بزاوية صغيرة وتختلف فقط بأن المسافة بين العينة واللاقط أقصر ويمكن بذلك ملاحظة الحيود عند زوايا أكبر.