ملف:Nanoscope.jpg
حجم هذه المعاينة: 800 × 531 بكسل. الأبعاد الأخرى: 320 × 213 بكسل | 640 × 425 بكسل | 1٬024 × 680 بكسل | 1٬280 × 850 بكسل | 2٬560 × 1٬700 بكسل | 4٬288 × 2٬848 بكسل.
الملف الأصلي (4٬288 × 2٬848 بكسل حجم الملف: 6٫6 ميجابايت، نوع MIME: image/jpeg)
 | هذا ملف من ويكيميديا كومنز. معلومات من صفحة وصفه مبينة في الأسفل. كومنز مستودع ملفات ميديا ذو رخصة حرة. |
| الوصف |
This instrument performs atomic force microscopy to measure surface characteristics and imaging for semiconductor wafers, lithography masks, magnetic media, CDs/DVDs, biomaterials, optics, among a multitude of other samples. (Pictured: Seth Darling, scientist in the Electronic & Magnetic Materials & Devices group.) The Center for Nanoscale Materials at Argonne National Laboratory is a joint partnership between the U.S. Department of Energy (DOE) and the State of Illinois, as part of DOE's Nanoscale Science Research Center program. |
| التاريخ | |
| المصدر | Scanning probe microscope (Veeco Multimode with NanoScope V Controller) |
| المؤلف | Matt Howard |
ترخيص
هذا الملف مُرخص تحت رخصة المشاع المبدع نسبة المصنف إلى مؤلفه - المشاركة على قدم المساواة 2.0 العامة
- يحقُّ لك:
- مشاركة العمل – نسخ العمل وتوزيعه وبثُّه
- إعادة إنتاج العمل – تعديل العمل
- حسب الشروط التالية:
- نسب العمل إلى مُؤَلِّفه – يلزم نسب العمل إلى مُؤَلِّفه بشكل مناسب وتوفير رابط للرخصة وتحديد ما إذا أجريت تغييرات. بالإمكان القيام بذلك بأية طريقة معقولة، ولكن ليس بأية طريقة تشير إلى أن المرخِّص يوافقك على الاستعمال.
- الإلزام بترخيص المُشتقات بالمثل – إذا أعدت إنتاج المواد أو غيرت فيها، فيلزم أن تنشر مساهماتك المُشتقَّة عن الأصل تحت ترخيص الأصل نفسه أو تحت ترخيص مُتوافِقٍ معه.
|
رَاجَع إِداريٌ أَو مُراجِعٌ هو File Upload Bot (Magnus Manske) هذه الصُّورة المَنشُورة أَصلاً في فلِيكر، بتاريخ July 5, 2009 وأَكد أَنَّها كانت مُتاحةً في الموقع تحت التَّرخيص المَذكُور في ذلك التَّاريخ. |
تاريخ الملف
اضغط على زمن/تاريخ لرؤية الملف كما بدا في هذا الزمن.
| زمن/تاريخ | صورة مصغرة | الأبعاد | مستخدم | تعليق | |
|---|---|---|---|---|---|
| حالي | 15:02، 5 يوليو 2009 | | 4٬288 × 2٬848 (6٫6 ميجابايت) | File Upload Bot (Magnus Manske) | {{Information |Description= This instrument performs atomic force microscopy (AFM) to measure surface characteristics and imaging for semiconductor wafers, lithography masks, magnetic media, CDs/DVDs, biomaterials, optics, among a multitude of other samp |
استخدام الملف
الصفحة التالية تستخدم هذا الملف:
الاستخدام العالمي للملف
الويكيات الأخرى التالية تستخدم هذا الملف:
- الاستخدام في fr.wikinews.org
- الاستخدام في fr.wiktionary.org
