تبعثر الأشعة السينية بزاوية كبيرة: الفرق بين النسختين
[نسخة منشورة] | [نسخة منشورة] |
تم حذف المحتوى تمت إضافة المحتوى
ط ربوت التصانيف المعادلة (22): + تصنيف:حيود |
ط بوت: ترحيل 2 وصلة إنترويكي, موجودة الآن في ويكي بيانات على d:q4165437 |
||
سطر 11: | سطر 11: | ||
[[تصنيف:تبعثر]] |
[[تصنيف:تبعثر]] |
||
[[تصنيف:تقنيات علمية]] |
[[تصنيف:تقنيات علمية]] |
||
[[en:Wide-angle X-ray scattering]] |
|||
[[ko:광각 X선 산란]] |
نسخة 01:11، 8 مارس 2013
تبعثر الأشعة السينية بزاوية كبيرة (بالإنجليزية: Wide angle X-ray scattering WAXS) هو تقنية من تقنيات حيود الأشعة السينية التي تستخدم غالبا لدراسة التركيب البلوري للمكوثرات. وتقوم هذه التقنية على تحليل ذرى براغ المبعثرة بزوايا كبيرة، والتي تنتج (وفقا لقانون براغ) عن البنى الدقيقة ذات مقياس تحت النانومتر.
وتبعثر الأشعة السينية بزاوية كبيرة هي نفس تقنية تبعثر الأشعة السينية بزاوية صغيرة وتختلف فقط بأن المسافة بين العينة واللاقط أقصر ويمكن بذلك ملاحظة الحيود عند زوايا أكبر.