تبعثر الأشعة السينية بزاوية كبيرة: الفرق بين النسختين
| [نسخة منشورة] | [نسخة منشورة] |
تم حذف المحتوى تمت إضافة المحتوى
ط بوت: إصلاح التحويلات |
ط بوت:إضافة وسم مقالات بحاجة لشريط بوابات لعدم تواجد شريط بوابات |
||
| سطر 8: | سطر 8: | ||
* [[دراسة البلورات بالأشعة السينية]] |
* [[دراسة البلورات بالأشعة السينية]] |
||
* [[حيود الأشعة السينية]] |
* [[حيود الأشعة السينية]] |
||
{{مقالات بحاجة لشريط بوابات}} |
|||
[[تصنيف:حيود]] |
[[تصنيف:حيود]] |
||
نسخة 10:41، 22 أغسطس 2017
 | يفتقر محتوى هذه المقالة إلى الاستشهاد بمصادر. (فبراير 2016) |
تبعثر الأشعة السينية بزاوية كبيرة (بالإنجليزية: Wide angle X-ray scattering WAXS) هو تقنية من تقنيات حيود الأشعة السينية التي تستخدم غالبا لدراسة التركيب البلوري للمكثورات. وتقوم هذه التقنية على تحليل ذرى براغ المبعثرة بزوايا كبيرة، والتي تنتج (وفقا لقانون براغ) عن البنى الدقيقة ذات مقياس تحت النانومتر.
وتبعثر الأشعة السينية بزاوية كبيرة هي نفس تقنية تبعثر الأشعة السينية بزاوية صغيرة وتختلف فقط بأن المسافة بين العينة واللاقط أقصر ويمكن بذلك ملاحظة الحيود عند زوايا أكبر.