تبعثر الأشعة السينية بزاوية كبيرة: الفرق بين النسختين

اذهب إلى التنقل اذهب إلى البحث
تدقيق الترجمة
(تدقيق الترجمة)
'''تشتتتبعثر الزاويةالأشعة الكبيرالسينية للأشعةبزاوية السينيةكبيرة''' "{{إنج|Wide angle X-ray scattering WAXS"}} هو تقنية لدراسةمن تشتتتقنيات [[أشعةحيود سينية|الأشعة السينية]] التي تستخدم غالبا لدراسة التركيب البللوريالبلوري لل[[بوليمرمكوثر|للمكوثرات]]ات. وهذهوتقوم التقنيةهذه ترجعالتقنية بالتحديدعلى لتحليلتحليل [[قممذرى براجبراغ]] المتشتتةالمبعثرة لزاويابزوايا كبيرة,كبيرة، والتي تقتضي (طبقاوفقا ل[[قانون براجبراغ]]) عندما تحدثأنها فإنهانتيدو تكونالبنى بسبببمقياس التركيباتتحت الدقيقةالنانومتر.
 
وهذا المصطلح غالبا ما يستخدم مع [[تشتت الزاوية الصغير للأشعة السينية]] لتحديد نوع التشتت.
==شاهد أيضا==
*[[تحليل بللوري بالأشعة السينية]]
 
{{بذرة علوم}}
 
{{غير مصنفة|يوليو 2009}}
 
[[en:Wide angle X-ray scattering]]
19٬632

تعديل

قائمة التصفح