تبعثر الأشعة السينية بزاوية كبيرة: الفرق بين النسختين

[مراجعة غير مفحوصة]

تم حذف المحتوى تمت إضافة المحتوى

مضمن

نسخة 10:26، 13 أغسطس 2005

تشتت الزاوية الكبير للأشعة السينية "Wide angle X-ray scattering WAXS" هو تقنية لدراسة تشتت الأشعة السينية تستخدم غالبا لدراسة التركيب البللوري للبوليمرات. وهذه التقنية ترجع بالتحديد لتحليل قمم براج المتشتتة لزاويا كبيرة, والتى (طبقا لقانون براج) عندما تحدث فإنها تكون بسبب التركيبات الدقيقة.

وهذا المصطلح غالبا ما يستخدم مع تشتت زاوية أشعة إكس الصغيرة لتحديد نوع التشتت.

شاهد أيضا

تحليل بللوري بالأشعة السينية

هذه بذرة مقالة عن موضوع علمي بحاجة للتوسيع. فضلًا شارك في تحريرها.

نسخة 10:25، 13 أغسطس 2005 عدل Medo1919 (نقاش \| مساهمات) 2٬390 edits طلا ملخص تعديل → التعديل السابق		نسخة 10:26، 13 أغسطس 2005 عدل تراجع Medo1919 (نقاش \| مساهمات) 2٬390 edits طلا ملخص تعديل التعديل اللاحق ←
سطر 7:		سطر 7:

	{{بذرة علوم}}		{{بذرة علوم}}


			[[en:Wide angle X-ray scattering]]