مجهر إلكتروني ماسح: الفرق بين النسختين

تصفح التاريخ تفاعلياً

[نسخة منشورة]

→ التعديل السابق التعديل اللاحق ←

تم حذف المحتوى تمت إضافة المحتوى

مرئينص الويكي

مضمن

نسخة 18:08، 24 ديسمبر 2017

المجهر الالكتروني الماسح هو نوع من انواع المجهر الالكتروني التي تنتج صور عينة عن طريق مسح ذلك مع شعاع مركز من الإلكترونات. تتفاعل الإلكترونات مع الذرات في العينة، وتنتج إشارات مختلفة تحتوي على معلومات حول تضاريس السطح وتكوينه. يتم مسح شعاع الإلكترون بشكل عام باستخدام المسح النقطي ويتم الجمع بين موقع الشعاع مع الإشارة لإنتاج صورة. سيم يمكن تحقيق فصل أفضل من 1 نانومتر. ويمكن مشاهدة العينات في فراغ عالي، في فراغ منخفض، في ظروف رطبة (في المجهر الالكتروني الماسح البيئي)، وفي مجموعة واسعة من درجات الحرارة المنخفضة جدا أو المرتفعة. إن أسلوب المجهر الالكتروني الماسح الأكثر شيوعا هو الكشف عن الإلكترونات الثانوية المنبعثة من ذرات مثارة بواسطة شعاع الإلكترون. يعتمد عدد الإلكترونات الثانوية التي يمكن اكتشافها، من بين أمور أخرى، على تضاريس العينة. عن طريق مسح العينة وجمع الإلكترونات الثانوية التي تنبعث باستخدام كاشف خاص، يتم إنشاء صورة عرض تضاريس السطح.في الأجهزة التناظرية، يتم مسح شعاع الإلكترونات عبر العينة في المسح النقطي بواسطة لفائف المسح الضوئي. ويشبه نمط المسح النقطي الناتج عن ذلك النمط المستعمل في أنبوب أشعة الكاثود لنظام التلفزيون بحيث تقوم الالكترونات بالتالي:

1. تجتاح السطح خطيا في الاتجاه السيني.

2. تعود إلى نقطة البدايةز

3. تتجه في اتجاه محور الصادات بواسطة أداة قياسية.

مصادر

wikipedia, scanning electron microscopy

skoog,(1971),608-613,"principles of instrumental analysis.

McMullan, D. (2006). "Scanning electron microscopy 1928–1965". Scanning. 17 (3): 175–185. معرف الوثيقة الرقمي:10.1002/sca.4950170309.^[1]^[2]^[3]

اقرأ أيضا

في كومنز صور وملفات عن: مجهر إلكتروني ماسح

هذه بذرة مقالة عن الكيمياء بحاجة للتوسيع. فضلًا شارك في تحريرها.

^ Hitachi Launches World’s Highest Resolution FE-SEM. Nanotech Now. 31 May 2011.
^ von Ardenne, Manfred (1938). "Das Elektronen-Rastermikroskop. Theoretische Grundlagen". Zeitschrift für Physik (بالألمانية). 109 (9–10): 553–572. Bibcode:1938ZPhy..109..553V. DOI:10.1007/BF01341584.
^ Tahmasebi، Pejman؛ Javadpour، Farzam؛ Sahimi، Muhammad (2015). "Multiscale and multiresolution modeling of shales and their flow and morphological properties". Scientific Reports. ج. 5: 16373. DOI:10.1038/srep16373. PMC:4642334. PMID:26560178.

[1] Hitachi Launches World’s Highest Resolution FE-SEM. Nanotech Now. 31 May 2011.

[2] von Ardenne, Manfred (1938). "Das Elektronen-Rastermikroskop. Theoretische Grundlagen". Zeitschrift für Physik (بالألمانية). 109 (9–10): 553–572. Bibcode:1938ZPhy..109..553V. DOI:10.1007/BF01341584.

[3] Tahmasebi، Pejman؛ Javadpour، Farzam؛ Sahimi، Muhammad (2015). "Multiscale and multiresolution modeling of shales and their flow and morphological properties". Scientific Reports. ج. 5: 16373. DOI:10.1038/srep16373. PMC:4642334. PMID:26560178.

[1]

[2]

[3]

@@ سطر 1: / سطر 1: @@
-{{مصدر|تاريخ=مارس 2016}}
 [[ملف:Misc pollen.jpg|thumb|left|270px|.]]
 المجهر الالكتروني الماسح هو نوع من انواع [[مجهر إلكتروني|المجهر الالكتروني]] التي تنتج صور عينة عن طريق مسح ذلك مع شعاع مركز من [[إلكترون|الإلكترونات]]. تتفاعل الإلكترونات مع الذرات في العينة، وتنتج إشارات مختلفة تحتوي على معلومات حول تضاريس السطح وتكوينه. يتم مسح شعاع الإلكترون بشكل عام باستخدام المسح النقطي ويتم الجمع بين موقع الشعاع مع الإشارة لإنتاج صورة. سيم يمكن تحقيق فصل أفضل من 1 نانومتر. ويمكن مشاهدة العينات في فراغ عالي، في فراغ منخفض، في ظروف رطبة (في المجهر الالكتروني الماسح البيئي)، وفي مجموعة واسعة من درجات الحرارة المنخفضة جدا أو المرتفعة. إن أسلوب المجهر الالكتروني الماسح الأكثر شيوعا هو الكشف عن الإلكترونات الثانوية المنبعثة من ذرات مثارة بواسطة شعاع الإلكترون. يعتمد عدد الإلكترونات الثانوية التي يمكن اكتشافها، من بين أمور أخرى، على تضاريس العينة. عن طريق مسح العينة وجمع الإلكترونات الثانوية التي تنبعث باستخدام كاشف خاص، يتم إنشاء صورة عرض تضاريس السطح.</blockquote>في الأجهزة التناظرية، يتم مسح شعاع الإلكترونات عبر العينة في المسح النقطي بواسطة لفائف المسح الضوئي. ويشبه نمط المسح النقطي الناتج عن ذلك النمط المستعمل في أنبوب أشعة الكاثود لنظام التلفزيون بحيث تقوم الالكترونات بالتالي:
@@ سطر 10: / سطر 9: @@
 == مصادر  ==
+{{مراجع}}
 wikipedia, scanning electron microscopy
 skoog,(1971),608-613,"principles of instrumental analysis.
-McMullan, D. (2006). [http://www-g.eng.cam.ac.uk/125/achievements/mcmullan/mcm.htm "Scanning electron microscopy 1928–1965"]. ''Scanning''. '''17''' (3): 175–185. <nowiki/>[[معرف الوثيقة الرقمي]]:[[doi:10.1002/sca.4950170309|10.1002/sca.4950170309]].
+McMullan, D. (2006). [http://www-g.eng.cam.ac.uk/125/achievements/mcmullan/mcm.htm "Scanning electron microscopy 1928–1965"]. ''Scanning''. '''17''' (3): 175–185. <nowiki/>[[معرف الوثيقة الرقمي]]:[[doi:10.1002/sca.4950170309|10.1002/sca.4950170309]].<ref>[http://www.nanotech-now.com/news.cgi?story_id=42612 Hitachi Launches World’s Highest Resolution FE-SEM]. ''Nanotech Now''. 31 May 2011.</ref><ref>{{cite journal|last = von Ardenne|first = Manfred|year = 1938|title = Das Elektronen-Rastermikroskop. Theoretische Grundlagen|journal = Zeitschrift für Physik|volume = 109
+|issue = 9–10|pages = 553–572|language = German|doi = 10.1007/BF01341584|bibcode = 1938ZPhy..109..553V }}</ref><ref>{{cite journal|last1=Tahmasebi|first1=Pejman|last2=Javadpour|first2=Farzam|last3=Sahimi|first3=Muhammad|url=http://www.nature.com/articles/srep16373| title=Multiscale and multiresolution modeling of shales and their flow and morphological properties|journal=Scientific Reports|volume=5|pages=16373|doi=10.1038/srep16373|pmid=26560178|pmc=4642334|year=2015}}</ref>
 == اقرأ أيضا ==