انتقل إلى المحتوى

مجهر الأشعة السينية

من ويكيبيديا، الموسوعة الحرة
(بالتحويل من X-ray microscope)

مجهر الأشعّة السينيّة عبارة عن مجهر يستخدم الموجات الكهرومغناطيسية في حزمة الأشعّة السينيّة بدلاً من الضوء المرئي وذلك في أطوال موجة من 10 نانومتر حتى 1 بيكومتر.[1][2][3]

المبدأ والتركيب

[عدل]

على العكس من أشعّة الضوء العادي فإنّ الأشعّة السينيّة لا تنعكس أو تنكسر بسهولة، كما أنها غير مرئية بالنسبة للعين البشرية. لذلك فإن العملية الرئيسية في مجهر الأشعة السينية هي إجراء تظهير للفلم أو استخدام مكشاف من جهاز اقتران الشحنة (CCD) من أجل الكشف عن الأشعّة السينيّة المارّة عبر العيّنة.

من الضروري إجراء عمليّة تركيز للأشعّة السينيّة المستخدمة في المجهر، كما تقوم العدسات بهذا الدور في المجهر البصري، من أجل ذلك يستخدم ما يدعى صفيحة المنطقة Zone plate، التي كان العالم فرينل أول من طوّرها، والتي تكون مصنوعة من حلقات مركزية من الذهب أو النيكل على ركازة من ثنائي أكسيد السيليكون.

يمكن أن يستخدم مصدر من إشعاع المسرّع الدوراني التزامني من أجل الحصول على أشعة سينية ذات طاقة منخفضة، إلا أن طول الموجة في المجال المراد له سطوع ضعيف نسبياً. أحد البدائل لتشكيل الصورة هو استخدام مجهر نافذ ماسح بالأشعة السينيّة ذات الطاقة المنخفضة، والذي يرمز له اختصارا STXM.

الخصائص

[عدل]

إن دقة الصور الناتجة عن مجهر الأشعة السينية تقع بين المجهر الضوئي والمجهر الإلكتروني. يمكن الخصول على دقة صورة حتى 30 نانومتر.

من محاسن هذا المجهر على المجهر الإلكتروني أنّه يمكن أن يظهر عيّنات حيوية في وضعها الطبيعي. بالإضافة إلى ذلك، فإن الأشعة السينية تسبب تألق الكثير من المواد، حيث يمكن استخدام ذلك من أجل التحليل الكيميائي لتحديد العنصر المكوّن للمادة تحت المجهر. كما يمكن عن طريق حيود الأشعة معرفة البنية البلورية.

اقرأ أيضاً

[عدل]

مراجع

[عدل]
  1. ^ Coherent X-Ray scanning microscopy at PETRA III reached 10 nm resolution (June 2012). Hasylab.desy.de. Retrieved on 2015-12-14. نسخة محفوظة 06 أبريل 2017 على موقع واي باك مشين.
  2. ^ Karunakaran، Chithra؛ Lahlali، Rachid؛ Zhu، Ning؛ Webb، Adam M.؛ Schmidt، Marina؛ Fransishyn، Kyle؛ Belev، George؛ Wysokinski، Tomasz؛ Olson، Jeremy؛ Cooper، David M. L.؛ Hallin، Emil (2015). "Factors influencing real time internal structural visualization and dynamic process monitoring in plants using synchrotron-based phase contrast X-ray imaging". Scientific Reports. ج. 5: 12119. Bibcode:2015NatSR...512119K. DOI:10.1038/srep12119. PMC:4648396. PMID:26183486.
  3. ^ Advanced Light Source (ALS) نسخة محفوظة 02 ديسمبر 2014 على موقع واي باك مشين.