تحليل براءات الاختراع
قانون براءات الاختراع |
---|
لمحات عامة |
مفاهيم إجرائية |
متطلبات الحصول على براءة الاختراع والمفاهيم ذات الصلة |
متطلبات قانونية أخرى |
حسب المنطقة / الدولة |
مواضيع محددة |
طالع أيضاً |
تحليل براءات الاختراع هو عملية تحليل مستندات براءة الاختراع والمعلومات الأخرى المستخدمة على مدار دورة حياة براءة الاختراع. يُستخدم تحليل براءات الاختراع للحصول على رؤى أعمق حول التقنيات والابتكارات المختلفة. تُستخدم مصطلحات أخرى أحيانًا كمرادفات لتحليلات براءات الاختراع: تصميم براءات الاختراع، رسم خرائط براءات الاختراع. تشمل تحليلات براءات الاختراع تحليل بيانات براءات الاختراع، وتحليل الأدبيات العلمية، وتنظيف البيانات، والتنقيب في النصوص، وتعلّم الآلة، ورسم الخرائط الجغرافية، وتصوير بيانات.[1]
تُستخدم تحليلات البراءات معلومات البراءات للكشف عن الرؤى والأنماط الابتكارية في مجال محدّد أو تكنولوجيا محدّدة. وتوفر تحليلات البراءات معلومات قائمة على البيانات ومستندة إلى الأدلة تمكّن المنظمات من اتخاذ قرارات استراتيجية أفضل في مجالات البحث والتطوير، وسياسات الابتكار، وتسويق الملكية الفكرية وترخيصها، والتعاون البحثي، والكثير من المجالات الأخرى. وغالباً ما تُجرى تحليلات البراءات في عدة خطوات، مثل الحصول على البيانات، وتقييمها وإيجاد أنماط، وعرض النتائج.[2]
قراءة إضافية[عدل]
- Breitzman، Anthony F.؛ Mogee، Mary Ellen (1 يونيو 2002). "The many applications of patent analysis". Journal of Information Science. ج. 28 ع. 3: 187–205. DOI:10.1177/016555150202800302. S2CID:36356971.
- Abbas، Assad؛ Zhang، Limin؛ Khan، Samee U. (2014). "A literature review on the state-of-the-art in patent analysis". World Patent Information. ج. 37: 3–13. CiteSeerX:10.1.1.407.7448. DOI:10.1016/j.wpi.2013.12.006. S2CID:17887406.
- Gazni، Ali (2020). "The growing number of patent citations to scientific papers: Changes in the world, nations, and fields". Technology in Society. ج. 62: 101276. DOI:10.1016/j.techsoc.2020.101276. S2CID:219520163.
المراجع[عدل]
- ^ Oldham، Paul. Chapter 1 Introduction | The WIPO Patent Analytics Handbook. مؤرشف من الأصل في 2023-05-26.
- ^ موقع المنظمة العالمية للملكية الفكرية: تحليلات البراءات نسخة محفوظة 2023-10-26 على موقع واي باك مشين.